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上海坚融实业I-V曲线，C-V曲线图半导体器件特性分析

日期：2014-07-03浏览：2980次

上海坚融实业I-V曲线，C-V曲线图半导体器件特性分析解决方案
上海坚融实业结合美国吉时利KEITHLEY4200-SCS成功推出了I-V曲线，C-V测线半导体器件特性分析解决方案。当前对于实验室研究的所有半导体器件，zui常见的电特性分析方法是：
I-V曲线图：电流与电压 (I-V) 测试显示了流过的直流电流和电子器件以及器件两端直流电压之间的关系。
C-V测线图：电容与电压 (C-V) 测试用于分析半导体材料和结构参数，例如表面俘获电荷密度、固定电荷和氧化层电荷。

C-V 曲线 (高频：100kHz)：
掺杂类型 – 氧化层厚度 – 平带电压 – 阈值电压 – 衬底掺杂 – zui大耗尽层宽度 – 反型层到平衡的灵敏度：电压扫描率和方向 – 光效应和温度效应。
I-V 曲线分析：
电荷建立 (测量电压 - 时间图，用低电流源)；氧化层电容测定；与 C-V 曲线比较。
C-V 曲线 (准静态) 结合 C-V 曲线：
表面电位 Ψs 与施加电压的关系 – Si (100) 的表面态密度 Dit = f (Ψs) 与 Si (111) 的相比：方向和后处理退火的影响。
C-V 曲线 (高频：100kHz)：
移动氧化层电荷密度 (偏压温度应力：200°C，10 分钟，±10V)

半导体器件实验室的核心是参数分析仪。简单易用的4200-SCS半导体特性分析系统能进行实验室级的直流和脉冲器件特性分析、实时绘制以及高精密和亚飞安分辨率的分析。4200-SCS 结合了 4200-CVU 的集成选件，现能让半导体测试用户灵活地创建集成了 DC、脉冲和 C-V 测试功能的方案。与传统模拟曲线跟踪软件非常类似，ACS 基础版能快速产生电子器件或封装产品的一系列曲线，而且能灵活、容易地对结果进行保存、比较和关联。

4200-SCS半导体特性分析特性：
测量时间短 – 安装简单、直观的测试选择向导并且内建测试；
无需编写代码 - ACS 具有直观的 GUI 能快速简化 I-V 测试、分析和结果；
4200-SCS半导体优化器件测试、验证和分析应用；
硬件灵活性 – 动态地加入或移除设备以满足独立测试的需要；
预装应用库 – 一组极丰富的超快、易于访问的测试库；
模块化的灵活软件架构便于扩展系统并使系统应用能满足的测试需要；
免费可选后台软件许可，能容易地在另一台PC上开发新的测试序列，无需挂起正在执行工作的系统。

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