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上海坚融实业碳纳米管MOSFET电流-电压特性IV曲线测试

日期：2014-06-13浏览：2112次

上海坚融实业碳纳米管MOSFET电流-电压特性IV曲线测试

实验室中研究的许多纳米级材料和器件，zui常见的电气特性分析方法是电流与电压 (I-V) 测试。电流-电压特性是显示电子器件上的直流电流与其两端的直流电压之间关系的一幅图。电气工程师使用这些图确定器件的基本参数并对电子电路的行为建模。通常，工程师将特性分析图称为 I-V曲线，从而指用于电流和电压的标准符号。典型的碳纳米管MOSFET 的漏电压与漏电流 I-V 曲线。

上海坚融实业有限公司对于纳米电子的具体电流与电压测量有自己的选型指南方案，可以协助纳米科学研究人员进行
1.精密、有把握地分析纳米材料和实验器件的能力；
2.直流、脉冲、射频测试：拓展发现的潜力；
3.吉时利KEITHLEY4200-SCS 符合并且支持世界*项用于碳纳米管的电测量标准 —— IEEE P1650-2005 标准：“测量碳纳米管电气特性的 IEEE 标准测试方法”。
4.吉时利KEITHLEY高速和简洁的测试方案能让生物学家、化学家、物理学家或其他研究人员简便地进行复杂测量。
5.吉时利产品在久负盛名的纳米科学研究期刊中广泛使用和引用，例如：
- 《纳米快报》(Nano Letters) - 《纳米技术》(Nanotechnology) - 《IEEE 纳米技术汇刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology)
- 《先进材料》(Advanced Materials) - 《自然》(Nature) - 《应用物理快报》(Applied Physics Letters)

纳米联盟合作伙伴资源有：纳米工程功能材料研究中心 (FENA)，西部纳米电子研究所 (WIN)，加州纳米系统研究院 (合作伙伴)

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