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JESD22环境可靠性测试标准

日期：2017-04-17浏览：22603次

JESD22环境可靠性测试标准主要功能包括术语、定义、产品特征描述与操作、测试方法、生产支持功能、产品质量与可靠性、机械外形、固态存储器、DRAM、闪存卡及模块、以及射频识别（RFID）标签等的确定与标准化。

标准编号	JESD22-A100C:2007
标准名称	湿热循环偏压寿命试验
试验目的	评估非固态封装产品在温度循环、高湿、偏压及结露环境下。产品抗腐蚀和耐须晶生长性能。
试验方法/条件	ramp time 2h～4h；storage 4h～8h；30~65℃,90%～98%RH
严酷等级	默认除非特例
时间	1008(-24,+168)h
匹配设备	ESPEC的J系列、LHU系列、SH系列、Walk-in等
设备要求	可编程交替温湿度变化

标准编号	JESD22-A102D:2010
标准名称	高加速蒸煮试验
试验目的	这个测试方法主要适用于抗湿热的健壮性测试，通过高温高压饱和湿气环境，引发分层或金属化腐蚀等失效。主要针对新封装材料及结构变化的考量。
试验方法/条件	121±2℃,100%RH,205KPa
严酷等级	Condition A~F
时间	24(0,+2)h；48(0,+2)h；96(0,+5)h；168(0,+5)h;240(0,+8)h;336(0,+8)h
匹配设备	EHS-211、EHS-411
设备要求	高压蒸煮设备

标准编号	JESD22-A103D:2010
标准名称	高温储存寿命试验
试验目的	高温存储测试通常用于确定时间和温度对产品的影响。
试验方法/条件	125(0,+10)℃；150(0,+10)℃；175(0,+10)℃；200(0,+10)℃；250(0,+10)℃；300(0,+10)℃；
严酷等级	Condition A~F
时间	Condition B 1000h or specifying in accordance with JESD47
匹配设备	ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
设备要求	试验过程能稳定控温

标准编号	JESD22-A104D:2009
标准名称	温度循环
试验目的	本实验用来确定组件、互联器件对交替温度极限变化产生的机械应力的耐受性。
试验方法/条件	-55(+0,-10)/+85(+10,-0);-55(+0,-10)/+125(+15,-0); -65(+0,-10)/+150(+15,-0); -40(+0,-10)/+125(+15,-0); -55(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+115(+15,-0); -0(+0,-10)/+100(+15,-0); -0(+0,-10)/+125(+15,-0);-55(+0,-10)/+110(+15,-0); -40(+0,-10)/+150(+15,-0);-40(+0,-10)/+85(+10,-0)
严酷等级	Condition A~N
时间	500~1000h根据具体条件
匹配设备	TCC、Global-N系列
设备要求	较高的温变速率

标准编号	JESD22-A105C:2004
标准名称	上电和温度循环
试验目的	适用于半导体器件，在交替的高低温极限中周期的施加卸除偏压，用于模拟样件所遭受的zui恶劣环境
试验方法/条件	-40(+0,-10)℃～+85(+10,-0)℃ ramp time 20min ,dwell time 10min -40(+0,-10)℃～+125(+10,-0)℃ ramp time 30min ,dwell time 10min power on/off 5min
严酷等级	Typical condition A~B
时间	10 minutes at each extreme temperature
匹配设备	J系列、MC、AR系列、BTZ、Global-N系列
设备要求	具有可编程控制能达到的温度变化数率

标准编号	JESD22-A106B:2004
标准名称	热冲击
试验目的	这个测试是为了确认样品暴露于温度变化的抵抗力和造成的影响。
试验方法/条件	85(+10/-0)℃/-40(+0/-10)℃;100(+10/-0)℃/0(+0/-10)℃;125(+10/-0)℃/-55(+0/-10)℃;150(+10/-0)℃/-65(+0/-10)℃ TT less than 20s
严酷等级	Condition A~D
时间	协议商定
匹配设备	TSB
设备要求	液体导热媒介

标准编号	JESD22-A107B:2004
标准名称	盐雾实验
试验目的	用来确定固态器件抵抗盐雾腐蚀能力
试验方法/条件	35(+3/-0)℃,沉降30±10克每平方米每24小时，pH 6.0~7.5.
严酷等级	Condition A~D
时间	24h;48h;96h;240h.
匹配设备	板桥理化的SQ系列
设备要求	适合完成中性盐雾条件的试验箱

标准编号	JESD22-A108D:2010
标准名称	高温环境条件下的工作寿命试验
试验目的	这个测试用于确定偏差的和温度对固体器件的影响。短时间一种高温偏压的寿命测试,俗称老化,可能被用来剔除早夭期相关故障。
试验方法/条件	125℃/-10℃
严酷等级	由测试时间决定
时间	168h；336h；504h或另外商定
匹配设备	ESPEC的PH/V系列、J系列、MC、SH/U、Walk-in、Z2系列等
设备要求	样品在通电状态下温箱温差控制在5摄氏度内

标准编号	JESD22-A110D
标准名称	高加速寿命试验
试验目的	高加速温湿度应力试验是为评估非气密性固态器件在潮湿及电偏压的环境中的可靠性。
试验方法/条件	130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;apply DC power
严酷等级	由所选温度点决定
时间	96h;264h
匹配设备	EHS-211、EHS-411
设备要求	能够达到的温湿度条件，并且具备给试样施加电偏压的结构

标准编号	JESD22-A118A:2011
标准名称	不上电的高加速湿气渗透试验
试验目的	高加速温湿度应力试验是为评估非气密性固态设备器件在潮湿的环境中的可靠性。
试验方法/条件	130±2℃/85±5%RH/96(-0,+2)h;110±2℃/85±5%RH/264(-0,+2)h;
严酷等级	由所选温度点决定
时间	96h;264h
匹配设备	EHS-211、EHS-411
设备要求	能够达到的温湿度条件

标准编号	JESD22-B103B:2002
标准名称	振动和扫频试验
试验目的	这个测试是评估电气设备组件。它的目的是确定组件)承受中度到重度的振动运动的结果　　　　运输或野外作业产生的。
试验方法/条件	正弦扫频实验、随机振动试验
严酷等级	正弦扫频实验分8个等级；随机振动试验从试验等级A~I
时间	正弦1decade/min扫过等级的规定的频率范围，4次每个轴,3个轴；随机每个轴30分钟，3个轴
匹配设备	DC-3200-36
设备要求	电磁振动台

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