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基础信息Product information

产品名称:日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570

产品型号:

更新时间:2024-08-16

产品简介:

日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查,LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量,基本精度±0.08%的高精度测量,适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量

产品特性Product characteristics

      专业仪器设备与测试方案供应商——上海坚融实业有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 坚友(上海)测量仪器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,为原安捷伦Agilent产品技术支持工程师-坚JET和吉时利KEITHLEY产品技术应用工程师-融YOO于2011年共同创办的以技术支持为特色的代理贸易公司,志在破旧立新!*进口仪器设备大多厂家仅在国内设销售点,技术支持薄弱或没有,而代理经销商也只专做销售,不专业做售前技术答疑/测试方案,不专业做售后使用培训/维修校准的空白。我们的技术销售工程师均为本科以上学历,且均有10年以上测试行业经验,以我们*进*的经营理念,专业为祖国用户提供仪器设备、测试方案、技术培训、维修计量服务,为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。

 

元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量)

日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570性能特点
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
阻抗分析仪HIOKI IM3570|日本日置HIOKI主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
 

日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570技术参数
测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源 AC90~264V,50/60Hz,150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件 电源线×1

日置HIOKI阻抗分析仪IM3570附件:治具,电缆,直流偏置,GP-IB,RS-232C接口,打印机

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