基础信息Product information

产品名称：庆声KSON高度加速寿命试验机HAST-S

产品型号：

更新时间：2024-08-19

产品简介：

专业为用户提供庆声KSON高度加速寿命试验机HAST-S仪器设备、测试方案、技术培训、维修服务，为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。

产品特性Product characteristics

    专业仪器设备与测试方案供应商——上海坚融实业有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 坚友（上海）测量仪器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原安捷伦Agilent技术工程师——坚JET和泰克Tektronix用户工程师——融YOO于2011年共同创立，志在破旧立新！*测试测量行业代理经销商只专业做商务销售，不专业做售前测试方案，不专业做售后使用培训的空白。我们的技术销售工程师均为本科以上学历，且均有10年以上仪器行业工作经验，专业为中国区用户提供仪器设备、测试方案、技术培训、维修服务，为上海华东地区一家以技术为导向的仪器设备综合服务商。

庆声KSON高度加速寿命试验机HAST-S(Highly Accelerated Stress Tester)

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。 

注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)

智能型排气设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性

长时间实验机台运转400小时超长效实验运转时间

内建USB2.0&磁盘驱动器数字记录器储存接口创新USB2.0储存接口

箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6kg tank耐压设计

二段式压力安全保护装置采两段式结合控制器与机械式压力保护装置

安全保护排压钮紧急安全装置二段式自动排压钮

直立式全彩触控控制系统

  控制系统通过EMC(电磁兼容性)验证

  直立式全彩液晶TFT,简/繁/英文显示器

  0. 01℃ / 0.1% RH精确解析能力 

  9999 HOURS / STEP 每段可控制时间

  150 program x 100 step 程序记忆容量 

  USB2.0储存接口与曲线记录 

  12 bit D/A 温度湿度转换接口 

  全自动控制与安全保护协调系统 

  High power LED运转状态指示灯 

  温度范围105℃～132℃

  湿度范围：75%~100% / 105 ℃~132 ℃

庆声KSON高度加速寿命试验机HAST-S规 格(SPECIFICATION)

内箱尺寸(Inside dimensions (W．D．H) cm) φ22 X 33(L) (cm)

外箱尺寸(Outside dimensions (W．D．H) cm) 65 X 90 X 63 (W*D*H)

内容积(Inside capacity) / 公升(Liter) 12L

内箱材料(Internal material) 不锈钢#316

外箱材料(External material) SECC

温度范围(Temperature range) 105℃～132℃

湿度范围(Humidity Range)75%~100% / 105 ℃~132 ℃

温度分布均匀度(Temperature uniformity ℃) ±1.0 ℃

湿度分布均匀度(Humidity uniformity %RH) ±5 %

温度稳定度(Temperature stability ℃) ± 0.3 ℃

主要装置(MAJOR DEVICE)

结构 (Structure) 标准压力容器

加湿系统(Humidification system) 电热管

加湿给水系统(Humidification water supply) 手动加水

控 制 器(Controller) IPC Baces Touch Panel

链接库编辑 150组程序

电压(V) 220V～240V 50/60Hz单相

高度加速寿命试验机(Highly Accelerated Stress Tester-HAST)

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。 

注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)

  中华锅炉协会压力容器安全检查合格

  圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测品

  马达驱动磁性风扇机构循环(温度 / 湿度分布均匀佳)

  安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水

  HAST设备本体材质SUS#316,外部包装材质SUS#304

  圆型测试槽与安全门环扣结构设计 

  电磁风扇马达循环装置湿度分布均匀 

  本体与主要进水管件SUS#316 材质

  时序插座与BIOS 纯银导线20 PIN 

  饱和或不饱和可程控模式 

  温度 / 湿度 / 湿球 / 温度 / 压力 / 电压显示

  相容于CM BUS远程监控管理系统 

庆声KSON高度加速寿命试验机KHS-A

Internal Dimension*L cm 40*40(50L)

External Dimension W*D*H cm 115*115*167

Circulated Method Magnet drive circulating fan system

（Temp./Hemidity superior uniformity）

  Temperature Range 105℃﹏143℃

Humidity Range 75％~100％／105℃~143℃

Heating Time Rt~130℃  85％（100 min）

Temperature Uniformity ± 1.0℃